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華高儀器于 2025 年 08月 29 日發(fā)布了文章【島津超聲波光學探傷儀 MIV-X：近表面缺陷可視化檢測新選擇】。作為在儀器設備行業(yè)服務了多年的經(jīng)銷商，華高儀器有著專業(yè)的儀器銷售團隊以及售后服務人員，在采購前期能給客戶一套專業(yè)完善的采購方案以及及時響應的售后服務。
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在材料檢測領域，近表面及內(nèi)部隱藏缺陷的識別一直是關鍵需求，傳統(tǒng)檢測方式常面臨難以覆蓋特定區(qū)域、操作復雜等問題。島津推出的超聲波光學探傷儀 MIV-X，依托光學成像技術，將超聲波振子與頻閃觀測器相結合，為材料缺陷檢測提供了新的思路，尤其在傳統(tǒng)超聲檢測難以觸及的領域展現(xiàn)出價值。
1. 核心技術：光學成像技術支撐
島津超聲波光學探傷儀 MIV-X 的核心優(yōu)勢源于其光學成像技術。該技術通過激勵試樣表面，再以光學方式檢測表面位移，從而清晰觀測超聲波在試樣表面的傳播情況。具體來看，儀器在試樣表面使用超聲波振蕩器產(chǎn)生振動，當超聲波在材料內(nèi)部傳輸時，表面產(chǎn)生的微小位移會通過激光照射與光學相機捕捉并實現(xiàn)可視化，工作人員可根據(jù)超聲波傳播的間斷情況，定位材料內(nèi)部的缺陷位置，讓原本難以察覺的隱藏問題直觀呈現(xiàn)。
2. 操作特性：簡便易上手，降低檢測門檻
不同于部分檢測設備需要專業(yè)人員長時間學習操作，MIV-X 能讓任何人快速、簡單地執(zhí)行視覺表面檢查，大幅降低了檢測操作的門檻。
操作流程簡化：工作人員只需將超聲波振蕩器放置在樣品上，隨后調(diào)整相機位置，短時間內(nèi)儀器就能顯示出超聲波的傳輸情況，從生成的視頻中可輕松識別缺陷所在，無需復雜的前期準備步驟。
軟件功能實用：儀器配套軟件功能豐富且操作簡單，不僅能實現(xiàn)缺陷標記，還支持尺寸測量等功能，進一步增強了檢測過程中的數(shù)據(jù)記錄與分析能力，滿足檢測過程中的基礎功能需求。
可選配件支持：該系列儀器提供可選的光學變焦組，搭配使用后可對更小的缺陷進行檢測，擴大了儀器在細微缺陷識別場景中的適用范圍。
3. 與傳統(tǒng)超聲檢測（UT）的差異：彌補檢測盲區(qū)
在檢測范圍與側重點上，MIV-X 與傳統(tǒng)超聲波檢測（UT）形成有效互補，重點彌補了 UT 難以檢測的區(qū)域，尤其擅長表面和近表面區(qū)域的缺陷檢測。
傳統(tǒng)超聲檢測在部分表面、近表面缺陷識別中存在局限，而 MIV-X 可將肉眼無法確認的裂縫、空隙、剝離等隱藏缺陷轉化為可視化圖像，讓這些以往容易被忽略的問題得到清晰呈現(xiàn)，為材料檢測提供更全面的視角。
4. 應用領域：覆蓋多行業(yè)檢測需求
憑借對近表面缺陷的識別能力，MIV-X 在多個行業(yè)的檢測場景中都能發(fā)揮作用：
可使傳統(tǒng)超聲檢測難以發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷（深度約 1mm）實現(xiàn)可視化，解決了部分材料內(nèi)部淺層缺陷難以檢測的問題。
在涉及多種材料的研發(fā)過程中，針對因組合不同材料以增加強度、減輕重量而產(chǎn)生的接頭、粘合表面缺陷，能輕松完成檢測，為多材料復合產(chǎn)品的研發(fā)與質(zhì)量把控提供支持。
適用于不同材料的粘接剝落檢測，以及油漆、熱噴涂、涂層等表面覆蓋層的缺陷檢測，覆蓋從基礎材料到表面處理層的多維度檢測需求。
島津超聲波光學探傷儀 MIV-X 通過技術、簡便的操作與廣泛的適用性，為材料缺陷檢測提供了新的解決方案，尤其在近表面、細微缺陷識別場景中，為各行業(yè)的質(zhì)量控制與研發(fā)工作提供了有力支持，推動材料檢測朝著更直觀、更全面的方向發(fā)展。
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